【セミコン・プレビュー】アドバンテスト，16個同時測定が可能な高スループットのテスト・ハンドラを発表
2006/12/04 16:44
アドバンテストは，テスト・ハンドラ「M4841」を，2007年4月に発売する（発表資料）。BGA，CSP，QFPなどのパッケージを最大16個同時に測定/搬送でき，スループットは1時間当たり1万8500個である。同時測定数は同社従来機比2倍，スループットは同3倍以上という。試験コストの削減を目指し，デジタル民生機器など価格要求の厳しい製品分野に向ける。
温度印加には恒温槽方式を採用した。−40〜＋125℃の温度環境試験が可能。独自の搬送機構「ソフト・タッチ・ハンドリング機構」を今回も採用し，ハンドラ内部の動きを最適化することで高精度な試験環境の実現を図る。同時測定個数，測定温度範囲，処理能力といった要求に合わせたユニットから選択できる構造にしている。
なお，同社はこの製品を，2006年12月6日〜8日に千葉県・幕張メッセで開催される「セミコン・ジャパン2006」に出展する予定。
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