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中国上海市にバウンダリ・スキャン・センターを米ASSETが設立

  • 小島 郁太郎=日経マイクロデバイス
  • 2006/03/07 07:26
  • 1/1ページ
米ASSET InterTech Inc.は,中国上海市にバウンダリ・スキャン・センターを設立したと発表した。バウンダリ・スキャン(IEEE 1149.1/JTAG)はテスト・データなどをチップに送り込んだり,読み出したりする技術。

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