【セミコン・プレビュー】米Mentorが故障診断ソフト発売，米AgilentのLSIテスターと連携
2005/11/08 15:24
YieldAssistの入出力と内部処理 Mentorのデータ。
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米Mentor Graphics Corp.は，故障診断ソフトウェア「YieldAssist」を発表した（ニュース・リリース1，同日本語訳）。同社はこれまで「TestKompress」や「FastScan」といったATPG機能の付いたDFTツールの一機能として，故障診断ソフトウェアを提供してきた。今回，単独の製品として発売した。
単独の製品にするにあたり，機能強化を図った。例えば，これまでは縮退故障しか扱えなかったが，今回の製品では，開放故障やブリッジ故障（Tech-On!関連記事1），遅延故障も扱えるようにした。また，通常動作回路だけではなく，テスト専用のスキャン・チェーンの故障診断も可能になった。さらに，同社のマスク・レイアウト検証ツール群「Calibre」のビューワ「Calibre RVE (result viewing environment)」を使って，マスク・レイアウトで故障個所を確かめられるようにした。論理回路図上での確認もできる。
Mentorは今回の単独製品化を，同社のDFM強化戦略の一環と位置づけている（Tech-On!関連記事2）。上述したCalibreとの連携もその一つである。また，YieldAssistはLSIテスターからテスト結果を取り込むことが可能で，米Agilent Technologies Inc. のLSIテスター「Agilent 93000」との連携が発表された（ニュース・リリース2） 。
なおMentorはこの製品を，2005年12月7〜9日に千葉市の幕張メッセで開催される「セミコン・ジャパン2005」に出展する。
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