2015年6月7日~11日に米国サンフランシスコで開催の電子設計技術に関する国際学会/展示会「52nd Design Automation Conference(DAC 2015)」をレポートする。
DAC 2015
52nd Design Automation Conference、2015年6月7日~11日に米国サンフランシスコで開催
目次
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10nm FinFETの設計フローはここまできた、TSMCが講演
台湾TSMCは、16nm FinFET+プロセス(N16FF+)および10nm FinFETプロセス(N10FF)を前提にした設計フローについて講演した。例えば、N10に関しては、製品ライクな検証用チップの第1弾がテープアウトしているという。この検証用チップには、4コアの「ARM Cortex-A5…
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10コアSoCを開発した理由、MediaTekが語る
台湾MediaTek社は、64ビットのARMコアを10個集積したモバイル機器向けアプリケーション処理SoC「Helio X20」を2015年5月に発表している。このSoCの開発経緯に関して、同社のDenny Liu氏(Deputy GM of Design Technology)が講演した。
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「いつまでもExcelじゃダメでしょ」、マイクロアーキテクチャー設計に寄せるNetSpeed社の思い
オンチップインターコネクトIPコアベンダーの米NetSpeed Systems社。同社の共同創業者でCEOのSundari Mitra氏に、52nd Design Automation Conference(DAC 2015:米サンフランシスコで2015年6月7~11日に開催)の展示会で話を聞いた。
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GoogleのVP9を全面サポート、仏Allegro DVTがエンコーダーIPなど提供
仏Allegro DVT社は、「52nd Design Automation Conference(DAC 2015)」(2015年6月7日~11日、米サンフランシスコ)の展示会でブースを構え、新製品などを紹介した。同社がDACに出展するのは、昨年に続き2回目である。
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高位合成による配線の密集をスマートに解消、ソシオネクストらが新設計手法
日本ではC言語やSystemCでICが設計できることから、高位合成の人気が高い。ただし、高位合成を使った得た設計データに基づいてレイアウト設計に進むと、配線の密集が発生しやすいという課題がある。
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意味ある消費電力解析を、MentorとANSYSが手を組む
米Mentor Graphics社と米ANSYS社は、両社の製品を組み合わせた動的消費電力解析環境を開発し、「52nd Design Automation Conference(DAC 2015)」(2015年6月7日~11日、米サンフランシスコ)で報道機関と顧客向けの発表会を開催した。Mentor…
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ASIL B/AEC-Q100/TS16949に適合、車載向けIPコアをSynopsysが一気に発表
米Synopsys社は、車載IC向けのIPコア群を一気に発表した。同社のIPコア「DesignWare」のうち、車載IC向けに需要が見込まれる製品を各種規格に準拠させた。
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Cadenceがフォーマル検証ツールを統合、新生JasperGoldが登場
米Cadence Design System社は、元々Cadenceが開発したフォーマル検証ツール「Incisive Formal Verifier」などと、1年程前に買収した米Jasper Design Automation社のフォーマル検証ツールなどとを統合した。製品名としては、「JasperG…
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最大4倍の高速化、Mentorが機能検証EDA環境をまとめて強化
米Mentor Graphics社は、機能検証向けのEDA環境「Mentor Enterprise Verification Platform(EVP)」を強化した。同社は、強化したEVPを、「52nd Design Automation Conference(DAC 2015)」(2015年6月7…
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Synopsys、FastSPICE「CustomSim」の処理速度を2倍に
米Synopsys社は、同社のFastSPICE回路シミュレーター「CustomSim」の2015.06バージョンを発表した。同社は新製品を「52nd Design Automation Conference(DAC 2015)」(2015年6月7日~11日、米サンフランシスコ)で紹介していた。
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パターンの有効性を見抜く、東芝らが露光ホットスポット推定を効率化
ICの製造上(露光)のホットスポットは、そのICのマスクレイアウトをチェックすることで推定される。その際、パターンマッチング技術を使う。すなわち、特定のパターンがある場所が、製造上のホットスポットとみなす。
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IPコアの不具合を見抜く第3の手法、ルネサスシステムが開発
現在、ほとんどのSoCは、既設計のIPコアを組み合わせて設計する。問題のないSoCを開発するには、IPコアに不具合がないことが重要だ。不具合の有無はシミュレーションを使ってチェックするのが一般的だが、どこまでシミュレーションすればチェックを網羅したと判断できるのか。実はこれには正解がない。
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クルマの電子制御は2016年に根本的に変わる、DelphiのCTOが基調講演
米Delphi社でChief Technology OfficerとExecutive Vice Presidentを務めるJeffrey Owens氏が、52nd Design Automation Conference(DAC 2015:米サンフラシスコ、2015年6月7日~11日)の2番目の基…
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Mooreの法則は続かねばならない、IntelのフェローがVisionary Talk
「Moore's law at Fifty : No end in sight」というタイトルで米Intel社FellowのVivek Singh氏が、52nd Design Automation Conference(DAC 2015:米サンフラシスコ、2015年6月7日~11日)の「Vision…
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本田技研、シミュレーション・モデル・インターフェースの有効性を確認
田技術研究所は、シミュレーション・モデル・インターフェースの「FMI:Functional Mockup Interface」の有効性を評価し、その結果について米サンフランシスコで開催中の「52nd Design Automation Conference(DAC 2015)」(2015年6月11日…
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Googleのスマートコンタクトレンズはこうなっている
エレクトロニクス設計技術の国際イベント52nd Design Automation Conference(DAC 2015)が2015年6月8日(現地時間)に本格スタートした(6月11日まで)。開会セレモニーに続いて最初の基調講演に登壇したのが、米Google社のBrian Otis氏(Direct…
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Synopsys、Atrentaを買収
米Synopsys社が米Atrenta社を買収することで、両社が合意した。AtrentaはRTLで設計をスタチックにチェックする「SpyGlassシリーズ」でよく知られている。
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東芝、SSD設計を2つの独自ソフトで最適化
東芝は、SSD(solid state drive)を最適化するための設計環境を構築した。独自開発した2つのソフトウエアなどからなる。
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「すでにメカCADは凌駕した」、DAC 2015の前夜祭でGary Smith氏が恒例のスピーチ
電子設計技術の国際学会/展示会である52nd Design Automation Conference(DAC 2015)が米カリフォルニア州サンフランシスコで始まった。初日の6月7日(日)はワークショップのみで、展示会は8日(月)から始まる。学会は一部8日から始まるが、一般論文の口頭発表などが始ま…
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1000万インスタンスに対応、Cadenceが論理合成ツールを刷新
米Cadence Design Systems社は、論理合成/フィジカル合成ツールの新製品「Genus Synthesis Solution」を発表した。「Encounter RTL Compiler」の後継製品に当たる。