「ITC(International Test Conference) 2013」のセッション12「Novel Techniques for ADC and RF」では、A-D変換器やRF回路の性能テスト・診断の新手法について3件の論文発表があった。通信用半導体デバイスの性能テストや不良診断は、一般に高額な専用装置を必要とする。3件の論文で提案された技術は、このような装置をの利用を減らすことにつながり、テスト・コスト削減に直接貢献すると期待される。
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