• BPnet
  • ビジネス
  • IT
  • テクノロジー
  • 医療
  • 建設・不動産
  • TRENDY
  • WOMAN
  • ショッピング
  • 転職
  • ナショジオ
  • 日経電子版

HOMEエレクトロニクス電子設計ITC(International Test Conference)2013 > 高性能半導体では、設計保証から試験保証への流れは止められない

ITC(International Test Conference)2013

高性能半導体では、設計保証から試験保証への流れは止められない

  • 山口隆弘=アドバンテスト研究所
  • 2013/09/17 18:25
  • 1/1ページ
設計保証は未だ有効か。2013年9月8日~13日のいわゆるテスト週間に米カリフォルニア州アナハイムで開催されたテストの国際会議「ITC(International Test Conference) 2013」では、設計保証の限界が論じられた。この議論があったのは、ITC 2013のPanel 4で、そのタイトルは「Challenges of SerDes and DDR Defect Testing and AC Specification Measurements」である。

トップページへ

おすすめ ↓スクロールすると、関連記事が読めます↓