ITC(International Test Conference)はエレクトロニクスのテストに関連した国際イベントである。ITCには学会や展示会をはじめ、さまざまな催しがあり、1週間続く。その週を「TestWeek」と呼んでいる。44回目となる「ITC 2013」は、2013年9月8日から13日まで米国カリフォルニア州Anaheimで開催される。(ITC 公式サイト)
ITC(International Test Conference)2013
2013年9月10~12日、米国カリフォルニア州Anaheim
目次
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高信頼化に向けた取り組み、テストの国際会議の基調講演や一般講演で相次ぐ
テストの国際会議「ITC(International Test Conference) 2013」(2013年9月10日~12日に米カリフォルニア州アナハイムで開催)では、デバイスの高信頼化に向けた取り組みが、基調講演や一般講演で数多く報告された。従来の製造後のテストにとどまらず、設計時にどのように…
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【総論】3度目のアナハイムは一段と暑くて熱かった
2013年のITC(International Test Conference)は、2013年9月8日~13日のITC Testweekに開催された。9月11日には、当日の全体セッションの最初に全員で黙とうする場面があった。
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高速IOのジッタ耐力テストでLSI社が新手法、BIST回路でサイン波ジッタを発生して注入
高速シリアルIOデバイスのテストで、最も重要で効果的かつ最も困難なのが受信機のジッタ耐力テストである。テストの国際会議「ITC(International Test Conference)」では、早くも2002年のITC 2002において、ジッタ耐力テストに向けた高速テスト技術がアドバンテスト研究所…
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MOSFET特性バラつき評価で3件の注目講演、アドバンテストらが新技術を発表
確率論的エントロピーは、確率変数の状態を規定するのに必要な情報量の平均値として定義できる。また、ガウス分布のエントロピーはその分散の対数に比例する。MOSFETの超微細化にともない、その特性バラつきの分散は増大する。すなわち、特性バラつきが増大すると、そのエントロピー(半導体回路から集めるべき情報量…
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【ITC 2013】IBM、Intel、ARMがオンチップ・モニター技術をそれぞれ披露
「ITC(International Test Conference)2013」(米カリフォルニア州アナハイムで2013年9月10日-12日に開催)では、企業事例(Advanced Industrial Practices)のセッションが昨年の4件から6件に増加した。オンチップ・モニターに関するセッ…
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HILSの手法をA-D変換器やRF回路のテストに応用、神戸大学がLTEで有効性を確認
「ITC(International Test Conference) 2013」のセッション12「Novel Techniques for ADC and RF」では、A-D変換器やRF回路の性能テスト・診断の新手法について3件の論文発表があった。通信用半導体デバイスの性能テストや不良診断は、一般…
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パネル「3次元実装ICはどうやってテストするのか」、Samsungが3次元実装の現状を初報告
「ITC(International Test Conference) 2013」の2日目に、3次元実装ICのテストをテーマにしたパネル・セッションがあった。「PANEL 3:Where Is 3-D Test Going? Is It a New Mainstream or a Marginal …
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高性能半導体では、設計保証から試験保証への流れは止められない
設計保証は未だ有効か。2013年9月8日~13日のいわゆるテスト週間に米カリフォルニア州アナハイムで開催されたテストの国際会議「ITC(International Test Conference) 2013」では、設計保証の限界が論じられた。この議論があったのは、ITC 2013のPanel 4で、…
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オーディオ向けのΔΣ型A-D変換器を高速かつ効率よくテストする技術、Iowa State大らが開発
米Iowa State University教授のDegang Chen氏は、一貫してA-D変換器のテストに取り組んできた。「ITC(International Test Conference) 2013」(米カリフォルニア州アナハイムで2013年9月10日~12日に開催)で同氏は、オーディオ向けの…
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EDA大手3社が学会発表でそろい踏み-まだまだ進化するテスト圧縮技術
米国カリフォルニア州アナハイムで2013年9月10日~12日に開催の「ITC(International Test Conference) 2013」。学会部門のテスト圧縮のセッションで、EDA大手3社それぞれから新しい技術についての講演があった。今後の回路規模の増大に対応するテスト圧縮技術の方向を…
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「テスト自動化の未来を何に賭けるか」、恒例のマンデー・パネルでITC 2013が開幕
米国カリフォルニア州アナハイムで開催の「ITC(International Test Conference)2013」では,通常の論文セッションの始まる前日(2013年9月9日)の夜,例年どおり特別パネル(マンデー・パネル)が設置され,第44回目となる本会議が開幕した。