• BPnet
  • ビジネス
  • PC
  • IT
  • テクノロジー
  • 医療
  • 建設・不動産
  • TRENDY
  • WOMAN
  • ショッピング
  • 転職
  • ナショジオ
  • 日経電子版

HOMEエレクトロニクス電子設計ITC(International Test Conference)2012 > 【ITC 2012】アドバンテスト、8Gビット/秒と高速のピン・エレクトロニクスをCMOSで実現

ITC(International Test Conference)2012

【ITC 2012】アドバンテスト、8Gビット/秒と高速のピン・エレクトロニクスをCMOSで実現

  • 小林春夫=群馬大学、ITCアジア委員
  • 2012/11/19 17:44
  • 1/1ページ
高性能ピン・エレクトロニクス回路をCMOSで実現・実用化するのは、LSIテスター(半導体試験装置)メーカーの回路設計技術者の夢だった。CMOS回路は特性バラつきが大きかったり、電流駆動能力が小さかったりするなどの課題があり、高性能ピン・エレクトロニクス回路を実現するのが非常に難しい。「ITC(International Test Conference) 2012」で、その夢を実現したという発表をアドバンテストが行った。
【技術者塾】(5/17開催)
キャパシタ応用を広げるための基礎と活用のための周辺技術


省エネルギー社会に則した機器を、キャパシタを上手に活用しながら開発するために、その原理と特長、信頼性、長寿命化、高密度化、高出力化などのセル開発の進歩とキャパシタの持つ課題と対応技術まで、実践活用に役立つ応用事例を示しながら学んでいきます。 詳細は、こちら
日程 : 2016年5月17日
会場 : BIZ新宿
主催 : 日経エレクトロニクス

おすすめ