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HOMEエレクトロニクス電子設計ITC(International Test Conference)2012 > 【ITC 2012】DDR4テストへの備えについてアドバンテストが語る

ITC(International Test Conference)2012

【ITC 2012】DDR4テストへの備えについてアドバンテストが語る

  • 大河原秀雄=アドバンテスト
  • 2012/11/13 20:54
  • 1/1ページ
「ITC(International Test Conferecne)2012」(11月4日~9日に米カリフォルニア州Anaheimで開催)のセッション4は次世代LSIテスターをテーマにしていた。そのタイトルは「New-Generation ATE For New-Generation Challenges」である。3件の講演があった。
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