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HOMEエレクトロニクス電子デバイスITC(International Test Conference)2012 > 【ITC 2012】フィールド劣化によるSoCの障害を発生前に防ぐ技術、日本の産学が協同開発

ITC(International Test Conference)2012

【ITC 2012】フィールド劣化によるSoCの障害を発生前に防ぐ技術、日本の産学が協同開発

  • 平出貴久=富士通研究所、ITCアジア委員会委員
  • 2012/11/12 16:54
  • 1/1ページ
日本の4大学(九州工業大学、奈良先端科学技術大学院大学、首都大学東京、大分大学)が日立製作所と共同で、SoCのフィールド劣化に関する講演を「ITC(International Test Conference) 2012」(2012年11月4日~9日に米カリフォルニア州Anaheimで開催)で行った。講演タイトルは、「DART:Dependable VLSI Test Architecture and Its Implementation」(講演番号15.2)である。
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