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HOMEエレクトロニクス電子デバイスLSI設計技能検定試験「ESA」過去問題解説集 > ≪問題≫VHDL-記述式4

  • エッチ・ディー・ラボ
  • 2012/08/22 00:00
  • 1/1ページ

次の図のような回路を含むLSIをICテスタを用いてスキャンテストを行うことにより故障を検出したい。しかし、この回路はこのままではスキャンテストできないため、スキャンテスト時にHighに固定されるTST端子を使って、回路を変更したい。スキャンクロックをCLK1とした時、回路をどのように変更すれば、スキャンテスト可能になるか。回路図と言葉を用いて解答せよ。

< 回路図 >


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