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HOMEエレクトロニクス電子デバイスLSI設計技能検定試験「ESA」過去問題解説集 > ≪問題≫Verilog-選択式4

  • エッチ・ディー・ラボ
  • 2012/06/27 00:00
  • 1/1ページ

問題

 LSI製造時にRAMをテストする方法として広く一般に用いられている手法は以下のうちどれか。

< 選択肢 >
1.BIST
2.LSSD
3.DMA
4.RAMBUS
5.DRC

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