半導体製造 プロセス技術や工場の動向を知るための
 

第4回:新しい信頼性保証のパラダイム

塩野 登=日本電子部品信頼性センター(RCJ)
福田 保裕=沖エンジニアリング
2010/04/12 00:00
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このような従来の標準条件に基づく認定試験での問題を解決するため,新しい信頼性保証の考え方が必要になっている。これに対する一つの解として,故障物理に基づく信頼性保証8)がある。これは,対象とする技術に対する故障モードや故障メカニズムを理解し,さらに製品の使用条件を考慮して加速試験条件を設定する信頼性保証方法である。具体的には,(1)開発段階から信頼性を考慮して対象技術の故障モードや故障メカニズムを理解する,(2)ユーザーとの協力によって使用条件を知る,の二つを推進する。具体的な認定フローを示す。

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