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HOMEエレクトロニクス電子デバイスパラダイム・シフトを目指すLSI信頼性保証 > 第3回:LSIの技術進化と信頼性保証

パラダイム・シフトを目指すLSI信頼性保証

第3回:LSIの技術進化と信頼性保証

  • 塩野 登=日本電子部品信頼性センター(RCJ)
    福田 保裕=沖エンジニアリング
  • 2010/04/05 00:00
  • 1/1ページ
CMOS LSIの高性能化・高集積化は,既に示したように新構造や新材料の導入を駆使した微細化によって実現されてきた。この結果,従来の標準条件に基づく認定試験ではコスト効率の低下や認定時間の長期化などの問題が目立つようになってきた。この問題を解決するため,信頼性保証のパラダイムを移行させることが求められている。
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