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HOMEエレクトロニクス電子デバイスパラダイム・シフトを目指すLSI信頼性保証 > 第2回:LSI信頼性保証の基本的な考え方と従来方法

パラダイム・シフトを目指すLSI信頼性保証

第2回:LSI信頼性保証の基本的な考え方と従来方法

  • 塩野 登=日本電子部品信頼性センター(RCJ)
    福田 保裕=沖エンジニアリング
  • 2010/03/29 00:00
  • 1/1ページ
これまで,製品としてのLSIの信頼性は,ユーザー業界ごとに定められた標準的な目標値を設定し,その目標値を満足できることを加速試験(ストレス試験ともいう)によって評価,保証してきた。このような保証手続きを一般に「認定試験(qualification test,信頼性保証試験)」と呼ぶ。認定試験の目的は,想定した使用環境や使用期間において,目標とした信頼性を確保することである。このため,メーカにとっては量産へ移行するための最終判断の基準になる。一方,ユーザにとっては製品を採用するための判断基準になる。認定試験を含めた総合的な信頼性保証が不十分な場合,市場での不良率増加やリコールが起こる。不良率増加やリコールが起きると,メーカは多大な追加コスト負担や企業ブランドの失墜といったビジネス上の大きな損失を招く。

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