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HOME > セミコン・ジャパン 2005 スペシャル･レポート > 【大手半導体製造装置メーカーに聞く】アドバンテスト

セミコン・ジャパン 2005 スペシャル･レポート

大手半導体製造装置メーカーに聞く

アドバンテスト

非メモリー向けテスターが拡大
課題はウエーハ・テスト向け

田所 孝夫 氏
常務執行役員 営業本部長

　2005年は次の三つの成果があった。
　第1に，非メモリー向けテスター市場でわれわれのシェアを拡大できた。マイクロプロセサ向けで大手ユーザーから受注したほか，液晶ドライバLSI向けなどが好調だった。SoC（system on a chip）テスター「T2000」は，2005年の1年間で，大型筐体の機種で400台程度，小型筐体の機種で50台程度の出荷を見込めそうである。これにより，2004年度末に17％弱だった非メモリー向けテスター市場でのわれわれのシェアは，2005年度末には30％近くまで上昇すると見ている。

　第2の成果は,メモリー向けテスター市場でのシェアが70％弱に上昇し，首位を維持したことである。DDR2のDRAM向けが出遅れているが，それをNAND型フラッシュ・メモリー向けが補った。第3の成果は，6.5Gビット/秒と高速の信号を扱える「T2000」のテスター・モジュールを開発したことである。

　2006年は次の三つを目標に据える。第1に，DDR2のDRAM向けテスターの市場を確実に押さえたい。すでに対応製品を出荷済みだが，DDR2チップの立ち上がりは2006年度第2〜3四半期になりそうである。第2に，T2000のビジネスを拡大する。そのために「オープン・アーキテクチャ」というT2000の特徴を生かす。テスター仕様を公開するだけでなく，テスター・モジュールを開発するサード・ベンダーを支援する。

　第3に，フラッシュ・メモリー向けのシェアを伸ばしたい。NOR型とNAND型を合わせて，パッケージ済みデバイス向けでは60〜70％のシェアを取れているが，ウエーハ・テスト向けはまだ20〜30％しか取れていない。この領域を強化する必要がある。さらに今後は，需要増が見込まれるMCP（multi-chip packaging）向けテスターにも力を入れていきたい。　（談）

（「NIKKEI MICRODEVICES 2005年12月号」から抜粋）