プレゼンテーションシアター　

昨年の様子

最新の技術・製品などについて出展社や主催者がプレゼンテーションします。
　※受講をご希望の方は、会場まで直接お越しください。

10月28日（水）

11：00〜11：45　3Dテクノロジーの展望
日本画質学会　副学会長　麻倉 怜士 氏

13：00〜13：45　ディスプレイ市場の行方、液晶、PDP、有機EL、テレビ、LED（ＢＬＵ）各市場の動向を斬る
アイサプライ・ジャパン

14：00〜14：45　ITアプリケーション市場動向ダイジェスト
ディスプレイサーチ　IT&FPD部門アナリスト ディレクター　氷室 英利 氏

10月29日（木）

11：00〜12：45　米国各州のエネルギー・環境ビジネス
アメリカ州政府協会（ASOA）：ミシシッピ州、ペンシルベニア州、テネシー州、バージニア州

13：00〜13：45　太陽電池変換効率分布測定機ＭＡＰシリーズとその応用
レーザーテック　技術本部 先端技術部 部長　米澤 良 氏

15：00〜15：45　LED照明・バックライト−解析・測定で設計トラプル回避は可能か？事例で読み解くLED設計
サイバネットシステム　応用システム事業部 オプティカルソリューション部　藤牧 雅人 氏

16：00〜16：45　日本の住宅事情に合ったアレイ設計について
ナショナル セミコンダクター ジャパン　KMS & ビジネス開発本部 部長　加藤 進 氏

10月30日（金）

11：00〜11：45　3Dテクノロジーの展望
日本画質学会　副学会長　麻倉 怜士 氏

12：00〜12：45　日本の住宅事情に合ったアレイ設計について
ナショナル セミコンダクター ジャパン　リニューアブル エナジー部　廣谷 雅樹 氏

13：00〜13：45　ディスプレイや部材各々におけるマクロムラの測定・解析・評価・数値化の方法
アイ・システム　今泉　醇二郎 氏

14：00〜14：45　TCON-Source Driver間インターフェースの現状と改善技術
ザインエレクトロニクス　営業企画部 アプリケーション技術グループ シニアエンジニア　秋田 浩伸 氏

15：00〜15：45　断面からの発光解析とTEM観察によるLEDのリーク不良解析。太陽電池の発光測定と解析事例
アイテス　品質技術 第一解析技術 課長　高木 啓太郎 氏
アイテス　生産技術 テスト機器開発　係長　藤田 敦 氏

16：00〜16：45　ODFにおける液晶滴下・シール塗布とインクジェット法の応用
武蔵エンジニアリング　総合企画室　富山 和照 氏

※講演内容，講師は予告無く変更する場合がございます。予めご了承下さい。